Produktfilm Fries Research & Technology
Oberflächenmessungen sind sehr komplex und abstrakt. Im Nanometerbereich werden die Strukturen, Rauheit und Profile vermessen.
Alpha & Omega PR hat den Vorgang bei der Qualitätskontrolle von Wafern (Siliziumscheiben, auf denen die Chipstrukturen hergestellt werden) in Szene gesetzt. So erkennt auch der "Nicht-Experte" auf einen Blick, welche Vorteile die FRT-Messgeräte bieten.
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